Ausschreibung: Tieftemperatur 4-Spitzen STM/SEM System (TT-4ppSTM) mit optischen Fasern
Technische Universität Chemnitz
Kurzbeschreibung(Ready Tender generiert)
Die Technische Universität Chemnitz schreibt die Beschaffung eines hochpräzisen Tieftemperatur-4-Spitzen-Rastertunnelmikroskopie-Systems (TT-4ppSTM) mit integriertem UHV-Rasterelektronenmikroskop (SEM) und optischen Fasern aus. Das System erzeugt stabile Kontakte (Tunnel-, Kraft-, Josephson-, Quantenpunkt- und ohmsche) für nanoelektromechanische Transportmessungen an Quantensystemen und Nanostrukturen unter Ultrahochvakuum und bei Temperaturen bis zu flüssigem Helium, mit kompatibler Präparationskammer für Oberflächenreinigung, Heizung bis 1500°C und In-situ-Manipulation. Es umfasst eine STM-Bühne mit 4-Spitzen-Konfiguration, Driftstabilität für Langzeitmessungen, digitale Log-In-Verstärker, Magnetfeldansteuerung sowie benutzerfreundliche Software mit 5 Lizenzen, ergänzt durch Zubehör wie 9 Probenhalter, 50 Spitzenhalter und Referenzproben.
Details zur Ausschreibung(Ready Tender generiert)
Die öffentliche Ausschreibung der Technischen Universität Chemnitz bezieht sich auf die Beschaffung eines hochpräzisen Tieftemperatur-4-Spitzen-Rastertunnelmikroskopie-Systems (TT-4ppSTM) mit integriertem Rasterelektronenmikroskop (SEM) und optischen Fasern. Das System dient der Erzeugung stabiler, rauscharmer Kontakte (Tunnel-, Kraft-, Josephson-, Quantenpunkt- und ohmsche Kontakte) für nanoelektromechanische Transportmessungen an komplexen Quantensystemen und Nanostrukturen. Es operiert unter Ultrahochvakuum (UHV) und bei tiefen Temperaturen (bis zu flüssigem Helium, LHe), und ist kompatibel mit bestehenden Probenaufnahme- und Transfersystemen. Zusätzlich ermöglicht es die präzise Positionierung optischer Fasern für opto-elektrische Messungen.
Das System umfasst ein UHV-System aus nichtmagnetischem Stahl mit drei Subsystemen (Schleuse, Präparationskammer, Analysekammer), das eine Aufnahme eines hochauflösenden UHV-SEMs und einer STM-Bühne in der Analysekammer erlaubt. Die Präparationskammer ist abtrennbar und ausgestattet mit ausreichend Ports für Komponenten wie LEED-Systeme, Manipulatoren (Transferstangen, Wobble-Sticks) und eine Schleuse für schnelles Einbringen von Proben und STM-Spitzen. Vakuumpumpen und -meter sorgen für Basisdrücke von 1x10^{-8} Pa oder besser in allen Subsystemen. Die Präparationskammer bietet einen kühlbaren Manipulator (<90 K) mit Heizoptionen (Direktstrom-, Elektronenstoß- und Strahlungsheizung bis 1500°C), Temperaturregelung, Ar-Sputtern für Oberflächenreinigung sowie In-situ-Reinigung/Präparation von STM-Spitzen. Weitere Flansche ermöglichen die Installation von Verdampfern (mindestens 3), LEED-Optiken und QMS.
Das UHV-SEM weist eine Auflösung von 20 nm oder besser (Kantenauflösung 80-20%-Kriterium) bei Energien von 1-20 kV und Temperaturen von 4-300 K auf, mit verzerrungsfreier Darstellung der Spitzen für gezielte Positionierung, ergänzt durch einen optionalen SE-Detektor. Die STM-Bühne gewährleistet hohe Driftstabilität für definierte Kontakte in Spektroskopie und Transportmessungen, unterstützt 4-Spitzen-Konfigurationen (z. B. 2pp mit Tunnelkontakten), Ansteuerung eines Magneten, Temperaturerfassung sowie Langzeitstabilität für Messungen über mehr als 4 Tage. Es umfasst STM-basierte Oberflächenmanipulation, digitale Log-In-Verstärker für dI/dV und d²I/dV², digitale Magnetfeldansteuerung mit Rampen bis 10 mT/s, Fernbedienung von STM-Scanner und SEM, Mitschnitt von Scanparametern (hyperspectral mapping) sowie benutzerfreundliche Software mit 5 Einzelplatzlizenzen für Auswertung. Zubehör umfasst 9 Probenhalter (Mo, 20 Stk.), 50 Spitzenhalter mit Au- und PtIr-Spitzen (für Transportmessungen geeignet), 20 Spitzentransferplatten, Referenzproben (Au(111) mit Gridstrukturen für Kalibrierung) sowie Garagenplätze in den Subsystemen (5 in der Schleuse, 10 in der Präparationskammer, >20 in der Analysekammer) für Proben- und Spitzenmanagement. Die Heizungen der Probenhalter unterstützen alle drei Arten (Direkt, Strahlung, Elektronenstoß) und UHV-kompatible Übergabekontakte.
Rechtliche Rahmenbedingungen umfassen die Unzulässigkeit von Nachprüfungsanträgen nach § 160 Abs. 3 GWB bei verspäteter Rüge von Verstößen (z. B. innerhalb von 10 Tagen nach Erkennung oder bis zur Angebotsfrist), sowie die Feststellung der Unwirksamkeit der Zuschlagserteilung nach § 135 Abs. 2 GWB innerhalb von 30 Kalendertagen nach Vertragsabschlussinformation (maximal 6 Monate, oder 30 Tage nach EU-Amtsblatt-Veröffentlichung). Bieter müssen Verpflichtungen zu Steuern, Abgaben und Sozialbeiträgen (nach sächsischer Bekanntmachung) sowie eine Eigenerklärung zum Mindestlohngesetz (MiLoG) nachweisen; auf Verlangen ist ein Gewerbezentralregister-Auszug (nicht älter als 3 Monate) oder äquivalente ausländische Bescheinigungen vorzulegen. Die Vergabe erfolgt elektronisch über eVergabe.de gemäß § 53 VgV für den Oberschwellenbereich, mit Angebotsabgabe in deutscher Sprache, Preisen in Euro (zzgl. USt.) und Einhaltung des Leistungsverzeichnisses ohne Qualitätseinschränkungen.
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